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| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-2萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,電子/電池,航空航天 |
德國(guó)EPK MiniTest 450透過涂層超聲波測(cè)厚儀：
超聲波測(cè)厚儀 •
便攜式手持精密測(cè)厚儀 •
用于測(cè)量鋼、不銹鋼、鋁、玻璃、 塑料等材料厚度 •
A/B掃描功能（450） •
自動(dòng)識(shí)別探頭型號(hào) •
自動(dòng)零點(diǎn)校準(zhǔn)及高速掃描功能 •
脈沖-回波模式，量程 0.65...500 mm
回波-回波模式（透過涂層測(cè)量） 量程 (3…25 mm)
德國(guó)EPK MiniTest 450透過涂層超聲波測(cè)厚儀：多種類型探頭可選 標(biāo)準(zhǔn)配置中，所有型號(hào)超聲波測(cè)厚儀均 配有5MHz探頭。為了滿足客戶的特殊 需求，Elektrophysik公司提供其他型號(hào)探頭可供選配， 可連接到Minitest 400 系列的所有型號(hào)。自動(dòng)探頭識(shí)別功能允 許在不同的測(cè)量需求下快速切換。
探頭技術(shù)規(guī)格
型號(hào) ? 頻率 測(cè)量范圍 溫度 應(yīng)用
U5.0E 8 mm 5.0 MHz 3…25 mm (E-E) 0.8…300 mm (I-E) -20…+50°C 440、450標(biāo)配探頭，可透 過涂層測(cè)量
U5.0 8 mm 5.0 MHz 0.8…350 mm -20…+50°C 420、430標(biāo)配
U2.0 12 mm 2.0 MHz 2.0…500 mm -20…+50°C 平面 粗糙表面 (例如鑄鐵)
U7.5 6 mm 7.5 MHz 0.65…50 mm -20…+50°C 薄壁 小弧面工件
U10.0 4 mm 10.0 MHz 0.65…20 mm -20…+50°C 小型工件
U5.0HT 13 mm 5.0 MHz 3 0…200 mm -20…+350°C 高溫探頭
